Настольный сканирующий электронный микроскоп
Уникальность настольного сканирующего микроскопа ASPEX EXpress заключается в том, что возможности электронного микроскопа теперь
доступны не только научно-исследовательским центрам, но и производственным лабораториям, так как при небольших габаритах и доступной цене
(сопостовимой со стоимостью, к примеру, рентгено-спектрального прибора), и, что особенно, важно — неприхотливости к производственным условиям,
этот электронный микроскоп обладает ещё и функциями микрорентгеноанализатора. Увеличение электронного микроскопа ASPEX EXpress: 25х – 25000х.
Настольный сканирующий электронный микроскоп ASPEX EXpress является прекрасным инструментом, который позволяет использовать
аналитические возможности электронной микроскопии, сочетая при этом в себе такие качества как малые размеры и компактность, надежность
и простота использования и обслуживания, и широкий спектр возможностей по автоматизации рабочего процесса. Электронный микроскоп ASPEX EXpress
обладает лучшим в своем классе сочетанием производительности и автоматизации, а так же самой большой камерой для образцов, что позволяет
производить исследование большого количества образцов в одном цикле работы.
Настольный сканирующий электронный микроскоп ASPEX EXpress производства ASPEX Corporation (США) построен на базе фирменной архитектуре PSEM
(personal scanning electron microscope) – персональный сканирующий электронный микроскоп, в основу которой положены следующие принципы:
- высокая производительность
- полная интеграция всех систем
- простота и интуитивность использования
- высокая защищенность от факторов внешней среды
- автоматизация рутинных процессов
Высокая производительность сканирующего электронного микроскопа ASPEX EXpress позволяет работать как с проводящими, так и
непроводящими образцами, благодаря функции низкого вакуума, что позволяет получить качественный результат при работе с любыми образцами.
Полная интеграция всех систем: ASPEX EXpress является интегрированной системой SEM–EDX, разработанной одним производителем,
благодаря чему, аппаратное обеспечение электронного микроскопа построено таким образом, чтобы получить наилучший результат, а единое
программное обеспечение позволяет выполнять все функции с помощью общего интерфейса управляющей программы.
Простота и интуитивность использования: философия ASPEX EXpress заключается в предоставлении пользователю легкого доступа
ко всем функциям системы.
Высокая защищенность электронного микроскопа от факторов внешней среды: конструкция настольного сканирующего электронного
микроскопа ASPEX EXpress позволяет нейтрализовать внешние магнитные поля и вибрационные помехи, что дает возможность получать великолепные результаты даже
в неподготовленных помещениях.
Автоматизация рутинных процессов: благодаря развитым возможностям по обработке и хранению информации, программное обеспечение
настольного сканирующего электронного микроскопа ASPEX EXpress позволяет создавать различные формы отчетности по проведенным
микроскопическим и аналитическим результатам с автоматической обработкой. Так же система позволяет производить высокоэффективный
количественный и качественный анализ различных включений.
Основные характеристики настольного сканирующего электронного микроскопа:
| Пространственное разрешение | 30 нм |
| Детектор | Обратно рассеянных электронов |
| Увеличение | 25х – 25000х |
| Ускоряющее напряжение | 2, 5, 10, 15, 20 Кв |
| Столик для образцов (Х х Y) | Моторизованный,
диапазон перемещений: 80 мм х 100 мм |
| Вакуумная система | Высокий вакуум (5*10-5 Торр),
Низкий вакуум (0,15 Торр, 0,3 Торр) |
| Размер камеры для образцов | 180 мм x 230 мм x 70 мм |
| Максимальный размер образца | 150 мм (диаметр) х 35 мм (высота) |
| Вес микроскопа | 90 кг |
| Система микроанализа | Интегрированная* |
| Тип детектора | Безазотный SDD |
| Разрешение | 135 эВ (Mn-Kα) |
| Диапазон определяемых элементов | от B до U |
| Электропитание | 220-240 В 50 Гц 5А, ИБП* |
| Программное обеспечение | Система управления Perception, Модуль для составления отчетов, Линейные и угловые измерения, Автоматизация измерений*, Модуль анализа частиц* |
Настольный сканирующий электронный микроскоп: Купить »
|
